Il Collegio dei Geometri e Geometri Laureati della provincia di Catania e la locale sezione SIFET, in collaborazione con la Leica Geosystems, hanno organizzato il seminario su: Topografia 2.0: integrazione ai sistemi GIS. Il seminario ha l’obiettivo di far conoscere le specificità dei sistemi GIS Mobile, di presentare le integrazioni con la strumentazione topografica e le nuove opportunità che può offrire il GIS di precisione, ma anche la finalità di introdurre il CORSO DI SPECIALIZZAZIONE che a breve sarà organizzato dal Collegio dei Geometri a favore dei propri iscritti. Il seminario, si terrà Martedì 12 Febbraio 2013 dalle ore 14,30 presso la sala convegni “Francesco Leonardi” del Collegio dei Geometri e Geometri Laureati della provincia di Catania. A tutti i Geometri in regola con il contributo Albo annuale, saranno riconosciuti tre crediti formativi professionali