SEMINARIO: Topografia 2.0: integrazione ai sistemi GIS

Volete accedere a nuove opportunità di lavoro?

Volete diversificare il rilievo topografico?

Volete esplorare nuove opportunità per allargare il vostro business?

Volete ampliare i vostri orizzonti?
Il Collegio dei Geometri e Geometri Laureati della provincia di Catania e la locale sezione SIFET, in collaborazione con la Leica Geosystems, hanno organizzato il seminario su:

Topografia 2.0: integrazione ai sistemi GIS.

Il seminario ha l’obiettivo di far conoscere le specificità dei sistemi GIS Mobile, di presentare le integrazioni con la strumentazione topografica e le nuove opportunità che può offrire il GIS di precisione, ma anche la finalità di introdurre il CORSO DI SPECIALIZZAZIONE che a breve sarà organizzato dal Collegio dei Geometri a favore dei propri iscritti.

Il seminario si terrà Martedì 12 Febbraio 2013 presso la sala convegni “Francesco Leonardi” del Collegio dei Geometri e Geometri Laureati della provincia di Catania, come da allegato programma.
La registrazione al seminario, che darà diritto ai partecipanti a n°3 crediti formativi professionali, dovrà essere effettuata, cliccando qui, entro l'11 febbraio p.v. .

Per scaricare la locandina, clicca qui.